Filtry
  • Kolekcje
  • Publikacje grupowe
  • Typ pliku
  • Autor
  • Współtwórca
  • Tytuł
  • Temat i słowa kluczowe
  • Data wydania
  • Typ zasobu
  • Jezyk
  • Prawa do dysponowania publikacją

Szukana fraza: [Abstract = "The Slit Island Method \(SIM\) is a technique for the estimation of the fractal dimension of an object by determining the area\- perimeter relations for successive slits. The SIM could be applied for image analysis of irregular grayscale objects and their classification using the fractal dimension. It is known that this technique is not functional in some cases."]

Wyników: 1

obiektów na stronie

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji