Repozytorium Uniwersytetu Zielonogórskiego udostępnia 9 313 obiektów cyfrowych
Obiekt
Tytuł: Mikrouszkodzenia wysokotemperaturowych taśm nadprzewodnikowych drugiej generacji
Autor:
Polegaj, Szymon ; Wójcik, Mateusz ; Nowak, Aleksander ; Górny, Mikołaj ; Pisarczyk, Joanna ; Hajdasz, Sylwia ; Szcześniak, Paweł
Data wydania:
Typ zasobu:
Streszczenie:
Zjawisko nadprzewodnictwa otwiera szerokie możliwości zastosowań, zwłaszcza w medycynie, przemyśle oraz elektroenergetyce. W artykule omówiono technologie nadprzewodnikowe, koncentrując się na taśmach nadprzewodnikowych drugiej generacji (HTS 2G) oraz ich mikrostrukturze. Taśmy HTS 2G, oparte na nadprzewodniku - tlenku itrowo-barowo-miedziowym (YBCO), wykonywane są w technologii cienkowarstwowej, a ich produkcja jest wciąż udoskonalana. Badania mikrostrukturalne taśm HTS 2G przeprowadzono za pomocą skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM) oraz spektroskopii promieniowania rentgenowskiego z dyspersją energii (EDS). ; Analiza pozwoliła na ocenę struktury warstw nadprzewodnika, srebra, podłoża Hastelloy oraz warstw buforowych. Wyniki wskazują, że pomimo wysokiej jednorodności oraz jakość warstw, co jest kluczowe dla stabilności parametrów krytycznych i efektywności urządzeń nadprzewodnikowych, w taśmach występują mikrodefekty mogące mieć znaczenie dla trwałości taśm HTS. Uzyskane dane są istotne z punktu widzenia zastosowań taśm HTS w elektroenergetyce i przemyśle nowoczesnych materiałów.
Abstract:
The phenomenon of superconductivity opens up wide possibilities for applications, particularly in medicine, industry, and power engineering. This article discusses superconducting technologies, focusing on second-generation high-temperature superconducting (2G HTS) tapes and their microstructure. 2G HTS tapes, based on the yttrium barium copper oxide (YBCO) superconductor, are manufactured using thin-film technology, and their production is continuously being improved. Microstructural studies of 2G HTS tapes were carried out using scanning electron microscopy (SEM) and energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS). ; The analysis enabled the assessment of the structure of the superconductor, silver, Hastelloy substrate, and buffer layers. The results indicate that despite the high homogeneity and quality of the layers- which is crucial for the stability of critical parameters and the efficiency of superconducting devices- microdefects are present in the tapes, which may affect the durability of HTS tapes. The obtained data are significant from the perspective of applying HTS tapes in power engineering and the advanced materials industry.
Opis:
artykuł zamieszczony w: "Wiadomości Elektrotechniczne", R. 93, nr 8
Format:
Identyfikator zasobu:
DOI:
Strony:
Jezyk:
Licencja:
Licencja CC BY-NC-ND 4.0:
Prawa do dysponowania publikacją:
Biblioteka Uniwersytetu Zielonogórskiego
Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:
- Repozytorium > Jednostki organizacyjne > Wydział Informatyki, Elektrotechniki i Automatyki
- Repozytorium > Typy utworów > Artykuły
Data ostatniej modyfikacji:
23 sty 2026
Data dodania obiektu:
23 sty 2026
Liczba wyświetleń treści obiektu:
4
Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:
https://zbc.uz.zgora.pl/repozytorium/publication/104468
Wyświetl opis w formacie RDF:
Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Mikrouszkodzenia wysokotemperaturowych taśm nadprzewodnikowych drugiej generacj | 23 sty 2026 |
