Obiekt

Tytuł: Calibration of PXI data acquisition cards used for primary impedance metrology = Kalibracja kart akwizycji danych PXI wykorzystywanych w metrologii impedancyjnej wysokich dokładności

Współtwórca:

Rybski, Ryszard - red.

Tytuł publikacji grupowej:

Systemy pomiarowe

Streszczenie:

W artykule przedstawiono procedury autokalibracji i procedury kalibracji zewnętrznej kart akwizycji danych PXI produkcji National Instruments. Zamieszczono wyniki kalibracji kart serii PXI-446X wykorzystywanych w Katedrze Metrologii, Elektroniki i Automatyki (KMEiA) Politechniki Śląskiej. ; Efektem kalibracji jest znaczna poprawa parametrów metrologicznych urządzeń. Wyniki pomiarów napięć otrzymane po adiustacji różnią się od wartości wzorcowych na wyjściu kalibratora nie więcej niż 0.7 mV.

Abstract:

Calibration procedure and requirements for self- and external calibration of National Instrument (NI) PXI data acquisition cards is presented in the paper. Calibration results of the PXI-446X cards used at Department of Measurement Science, Electronics and Control (KMEiA) of Silesian University of Technology are presented. ; The results show that calibration procedure was successful and the metrological parameters of the PXI-446X devices used at KMEiA was improved. Measurement results obtained after adjustment differ from the reference values of the DC voltage calibrator used for the calibration purpose by no more than 0.7 mV.

Wydawca:

Zielona Góra: Uniwersytet Zielonogórski, Instytut Metrologii, Elektroniki i Informatyki

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:zbc.uz.zgora.pl:59698

Strony:

159-169

Jezyk:

eng

Licencja:

CC 4.0 ; kliknij tutaj, żeby przejść

Prawa do dysponowania publikacją:

Biblioteka Uniwersytetu Zielonogórskiego

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2022-02-25

Data dodania obiektu:

2022-01-28

Liczba wyświetleń treści obiektu:

173

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://zbc.uz.zgora.pl/repozytorium/publication/67218

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji